표면 분석 (Surface Analysis)
나노미터 단위의 정밀한 표면 분석을 위한 원자현미경(AFM)을 제공합니다. 별도의 시료 전처리 없이 탐침이 직접 표면을 스캔하여 재료, 생명과학, 반도체 등 다양한 분야의 나노 단위 형상과 물성을 빠르고 정밀하게 측정할 수 있습니다.
올인원 연구용 CoreAFM, 생물학적·재료 샘플 분석에 특화된 DriveAFM, 도립현미경과 결합 가능한 FlexAFM, 광학현미경에 직접 장착하는 모듈형 LensAFM, 좁은 공간에서도 사용 가능한 교육용 NaioAFM까지 목적에 맞는 최적의 솔루션을 제공합니다.
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